X2072型阴极发光EDS能谱仪

2019-07-12

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Ø  适用于大多数样品,包括薄片、粉末、碎片、透明与非透明样品,无需对样品进行喷碳或喷金处理 。
Ø  可通过不同大小的光孔对矿物或试样进行微区分析(最小50~100μm),还可通过对束斑大小的调节,得到矿物未知成分的平均值。
Ø  电子束激发X射线荧光强度高,强度要大于X射线激发源的激发强度约4-5个数量级,分析灵敏度较高,测试时间短。
Ø  电子束入射样品深度很浅(仅仅为1-2μm左右),是真正的表面分析。
Ø  除激发的特征X射线被探测以外,没有其他的噪声信号被探测,分析结果更准确
Ø  探测器可探测的元素范围为11(Na)~92(U)。特别是对Na, Mg, Al, Si, P, S, Cl, K, Ca, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn等主量元素的分析结果灵敏度高,谱线重复性好。
Ø  全分析,内建诊断功能,全自动操作,一键式分析软件,操作简便。